SIMS as a new methodology to depth profile helium in as-implanted and annealed pure bcc metals?

Titre

BSO - Titre

SIMS as a new methodology to depth profile helium in as-implanted and annealed pure bcc metals?

DOI

DOAI

Identifiant WoS

WOS:000400222700009

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Non OA

Editeur

Elsevier

Source

NUCLEAR INSTRUMENTS & METHODS IN PHYSICS RESEARCH SECTION B-BEAM INTERACTIONS WITH MATERIALS AND ATOMS

ISSN

0168-583X

Type de document

Notoriété

3 - Correcte

CNRS

Oui

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